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是德科技将在 EPEPS 2014 上
展出最新的硬件和电子设计自动化软件解决方案

2014 年 10 月 23 日,美国加利福尼亚州圣罗莎——是德科技公司日前宣布, 将在 EPEPS 2014 上展示最新的硬件和电子设计自动化软件解决方案。该展会将于当地时间 10 月 26 日至 29 日在美国俄勒冈州波特兰市的波特兰大使馆套房酒店(Embassy Suites Portland)举办。是德科技是此次盛会的白银级赞助商。

在 EPEPS 2014 展会上,来自是德科技的多位资深技术专家及应用工程师将举行一系列非正式研讨会,向与会者演示最新发布的电磁场仿真和测量工具。这些先进工具帮助设计人员有效地将集成电路、封装和电路版图整合在一起,从而能够对多千兆位通道设计进行仿真、分析与测量。多千兆位通道的设计包括单端 DDR、高密度差分 PCIe®及 100 GB 以太网的最高数据传输速率等。

是德科技还将展示电磁场技术的最新进展。工作中有信号和电源完整性要求的工程师们将会了解到如何将这些电磁场模型无缝集成到他们的设计工作流程中,包括版图前期、版图后期、测量和方法,以便设计出性能稳定的产品。是德科技还将通过最近推出的自动夹具移除(AFR)选件来展示误差校正技术的突破性进展,进一步扩展了物理层测试系统(PLTS)软件的应用范畴。此外,作为 EPEPS 2014 技术计划的一部分,是德科技 EEsof EDA 的高级研发工程师Fangyi Rao博士届时将会发表一篇题为《由通道离散引起的抖动相关性》的专题文章。

如欲报名参加本次研讨会,请访问 http://epeps.ece.illinois.edu

关于ADS (Advanced Design System)软件

ADS是全球领先的电子设计自动化软件,适用于射频、微波和高速数字应用。借助功能强大、易于使用的界面,ADS 是获得商业成功的创新技术(例如 X 参数*和三维电磁场仿真器)的代表,这些技术已被无线通信与网络以及航空航天与国防领域中的领先厂商广泛采用。欲知是德科技 ADS 的更多信息,请访问 www.keysight.com/find/eesof-ads

关于 ENA 选件 TDR

ENA 选件 TDR 是全面的信号完整性测量解决方案,在设计上确保下一代高速数字系统的验证和一致性测试。该应用软件是用于高速串行互连分析的最佳综合解决方案,提供频域、时域和眼图分析等功能,包括 Hot TDR 测量和强化眼图分析。该软件具有三大突破特性,即简单直观的操作、快速精确的测量以及高 ESD 稳定性。欲知有关 ENA 选件 TDR 的更多信息,请访问 www.keysight.com/find/ena-tdr

于是德科技 EEsof EDA 软件

是德科技 EEsof EDA 软件是业界领先的电子设计自动化软件,适用于微波、射频、高频、高速数字、射频系统、电子系统级、电路、3D 电磁、物理设计和器件建模等应用。详情请访问 www.keysight.com/find/eesof

关于是德科技

安捷伦科技公司于2013年9月19日宣布,计划以免税剥离电子测量业务的方式,将公司拆分为两家上市企业。新公司命名为是德科技公司(Keysight Technologies, Inc)。是德科技自2014年8月1日起作为安捷伦的全资子公司开始运营。预计2014年11月初两家公司完成拆分。是德科技将在纽约证券交易所挂牌上市,股票交易代码为 KEYS。

是德科技是全球电子测量技术和市场的领导者,致力于推动无线通信、模块化和软件解决方案的持续创新,专注于为客户提供卓越的测量体验。是德科技提供电子测量仪器、系统和相关软件,以及软件设计工具和服务,广泛应用于电子设备的设计、研发、制造、安装、部署和运营。如欲了解是德科技的详细信息,请访问www.keysight.com

前瞻性陈述

此新闻内容包括 1934 年《证券交易法案》中规定的前瞻性陈述,并受由此创建的安全港规则约束。此处的前瞻性陈述包括但不限于:电子测量业务剥离以及成立是德科技;未来收入、利润和盈利能力;未来对公司产品和服务的需求;以及客户预期。这些前瞻性陈述涉及风险和不确定因素,可能导致是德科技的业绩与管理层当前预期产生巨大差异。这些风险和不确定因素包括但不限于:客户业务实力不可预见的变化;对当前以及新产品、技术和服务的需求不可预见的变化;客户的购买决策和时机,以及我们无法实现由整合和重组行为所带来的预期收效的风险。

此外,是德科技面临的其他风险包括是德科技向证监会提交的文件中详细说明的风险,包括我们最近提交的 Form 10 及其修订书。前瞻性陈述基于是德科技管理层的判断和假设以及现有信息而给出。是德科技概不承担向公众更新或修改前瞻性陈述的义务。

注:

PCIe® 是 PCI-SIG 在美国的注册商标和/或服务标识。

* X 参数为是德科技公司在美国、欧盟、日本及其他国家或地区的注册商标。X 参数格式和基础方程是公开的且已存档。如欲了解更多信息,请访问www.Keysight.com/find/eesof-x-parameters-info